主要應(yīng)用實(shí)例:廢舊金屬回收、合金材料牌號(hào)鑒定、貴金屬等檢測(cè)(如不銹鋼、中低合金鋼、銅合金、鈦合金、鋁合金、鉭合金等的鑒定分析),探礦檢測(cè)、品位控制、環(huán)境分析領(lǐng)域(可檢測(cè)礦石中多達(dá)40多種元素如:P、Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr等),原礦、精礦、尾礦、礦渣等礦物品分析等領(lǐng)域,為各種材質(zhì)等的分析提供可靠地判斷價(jià)值
二、儀器原理:
理論上,配置Si-Pin探測(cè)器,可檢測(cè)Ti(22)-U(92)之間的所有元素。
元素含量范圍寬,從ppm含量到99.9均可檢測(cè),具體檢出限需看分析材質(zhì)。
三、元素分析范圍及含量范圍:
X射線管發(fā)出的一次X射線,經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直器照射到樣品表面,樣品激發(fā)并輻射出所含元素的特征X射線,根據(jù)特征X射線的能量及強(qiáng)度對(duì)樣品所含元素進(jìn)行定性、定量分析。
四、技術(shù)參數(shù)
光源部分 |
X光管品牌 | Amptek | X光管輸入 | 9-11VDC,0.5A |
X光管靶材 |
| X光管輸出 | 50KV,200μA |
X光管功率 | 4W | 準(zhǔn)直器材質(zhì) |
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X光管穩(wěn)定性 | 0.2% 8h | 濾片及材質(zhì) |
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探測(cè)器 |
探測(cè)器類(lèi)型 | Si-Pin |
探測(cè)器品牌 | Amptek |
典型分辨率 | 145ev |
輸出計(jì)數(shù)率 | 30Kcps |
峰背比 | >6200 |